電工電子標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)目錄：發(fā)布時(shí)間： 點(diǎn)擊次數(shù)：次
1.GB/T2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則
2.GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
3.GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
4.GB/T2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
5.GB/T2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
6.GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
7.GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
8.GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞
9.GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
10.GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
11.GB/T2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
12.GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)（正弦）
13.GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨要振動(dòng)-一般要求
14.GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-高再現(xiàn)性
15.GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-中再現(xiàn)性
16.GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)-低再現(xiàn)性
17.GB/T2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
18.GB/T2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則 長(zhǎng)霉
19.GB/T2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
20.GB/T2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）
21.GB/T2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
22.GB/T2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫經(jīng)氫試驗(yàn)方法
23.GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法
24.GB/T2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
25.GB/T2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封
26.GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射
27.GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
28.GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
29.GB/T2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
30.GB/T2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法
31.GB/T2423.29-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
32.GB/T2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
33.GB/T2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
34.GB/T2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)方法
35.GB/T2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
36.GB/T2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
37.GB/T2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
38.GB/T2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/Bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
39.GB/T2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)L:砂塵試驗(yàn)方法
40.GB/T2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法
41.GB/T2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法
42.GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
43.GB/T2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法
44.GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
45.GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動(dòng)（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
46.GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg:撞擊 彈簧錘
47.GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序
48.GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef:撞擊 擺錘
49.GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg:聲振
50.GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng)-時(shí)間歷程法
51.GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)-正弦拍頻法
52.GB/T2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
53.GB/T2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
54.GB/T2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
55.GB/T2424.2-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
56.GB/T2424.10-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
57.GB/T2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則
58.GB/T2424.12-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則
59.GB/T2424.13-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
60.GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
61.GB/T2424.15-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
62.GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
63.GB/T2424.19-1984 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
64.GB/T2424.20-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則
65.GB/T2424.21-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱(chēng)量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則
66.GB/T2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
67.GB/T2424.23-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則
68.GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
69.GB/T2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:試驗(yàn)導(dǎo)則 地震試驗(yàn)方法
70.GB/T10593.1-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 振動(dòng)
71.GB/T10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 鹽霧
72.GB/T10593.3-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納
73.GB/T8430-1998 紡織品 色牢度試驗(yàn) 耐人造氣候色牢度:氙弧
74.GB/T8427-1998 紡織品 色牢度試驗(yàn) 耐人造光色牢度:氙弧
75.GB/T1865-1997 色漆和清漆人工氣候老化和人工輻射暴露（濾過(guò)的氙弧輻射）
76.GB/T16422.1-1999 塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法*部分:通則
77.GB/T16422.2-1999 塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第二部分:氙弧燈
78.GB/T12831-1991 硫化柏膠人工氣候（氙燈）老化試驗(yàn)方法
79.GB/T2951.1~2951.10-1997 電纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法
80.GB11606.1~17-89 分析儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
81.GB12085.1~14 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法
82.GB6808-86 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化著色陽(yáng)極氧化膜耐曬度的人造光加速試驗(yàn)
83.GB9868-88 柏膠獲得高于或低于常溫試驗(yàn)溫度通則
84.GB/T12584-90 柏膠或塑料涂覆的低溫沖擊試驗(yàn)
85.GB/T10125-1997 人造氣候腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
86.GB/T14710-93 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法
87.GB/T17782-1999 硫化柏膠壓力空氣熱老化試驗(yàn)方法
88.GB/T7020-86 中空玻璃試驗(yàn)方法
89.GB/T3512-2001 硫化柏膠或熱塑柏膠熱空氣加速老化和耐熱試驗(yàn)
90.GB/T13951-92 移動(dòng)式平臺(tái)及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)一般要求
100.GB11804-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語(yǔ)
101.GB4796-84 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類(lèi)及其嚴(yán)酷程度分級(jí)
102.GB4797.1-84 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度
103.GB4797.2-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海撥與氣壓、水深與水壓
104.GB4797.3-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物
105.GB4797.4-89 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽(yáng)輻射與溫度
106.GB/T4794.5-92 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風(fēng)
107.GB/T4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧
108.GB/T4798.1-86 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 貯存
109.GB/T4798.2-1996 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 運(yùn)輸
110.GB 4798.3-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 有氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
111.GB 4798.4-90 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 無(wú)氣候防護(hù)場(chǎng)所固定使用
112.GB 4798.5-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 地面車(chē)輛使用
113.GB 4798.6-84 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 船用
114.GB 4798.7-87 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用
115.GB 4798.10-01 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件 導(dǎo)言