手機可靠性試驗介紹

                                                                       手機可靠性試驗介紹
     為滿足大批量生產的需要，手機生產測試必須考慮測試接口。常用的測試接口有系統(tǒng)連接器和射頻連接器。系統(tǒng)連接器是手機上的數據接口，主要用于手機和計算機通訊，包括測試命令的輸入和在線下載等。高低溫沖擊試驗箱手機在校準時，計算機運行生產測試軟件，控制綜測儀和手機測試狀態(tài)，計算機通過系統(tǒng)連接器，與手機進行通訊，不斷調整各種參數，使手機的性能指標達到規(guī)范要求。射頻連接器是手機主板上的射頻測試接口，是手機與儀器的射頻測試通道。由于手機外形尺寸和空間的限制，手機一般都采用微型射頻連接器。有的設計方案是把射頻連接器和系統(tǒng)連接器結合在一起。也有的設計方案考慮成本因素，不使用射頻連接器，而在主板上將天線的接入觸點作為射頻測試點。 高低溫沖擊試驗箱 針對手機測試的工位有：FLASH 燒錄，板號寫入，主板測試，主板校準，整機功能測試，整機終測等。 以下對各測試環(huán)節(jié)作一簡單的介紹。 （1）FLASH 燒錄 一部正常工作的手機，除了要有硬件、結構件外，還必須要有軟件支持。手機下載軟件一般是在FLASH 芯片貼 片前將程序燒錄在芯片中，或者等到貼片完成后采用在線下載。 在線下載方式的優(yōu)點是靈活，如貼片完成后，或已裝成整機后，需對軟件進行升級，該方式就比較適合。但在大批量生產過程中，芯片燒錄方式則效率更高。對于一款手機，如果用在線方式下載程序，需要的時間是10 分鐘，改用芯片燒錄方式下載同樣的程序，只需約3~4 分鐘。同時，在芯片燒錄過程中，對該器件具有檢測作用。如某款手機，在生產初期，手機軟件采用在線下載的方式，發(fā)現有少量手機不能正常下載，換FLASH 后正常。高低溫沖擊試驗箱在第二次生產時，改用芯片燒錄方式下載軟件， 燒錄過程中發(fā)現有2% 的FLASH 不正常。通過這種方式，可以將不良FLASH 檢查出來，避免在帖片后，才發(fā)現器件不良問題，減少了手機維修成本。 （2）板號寫入 手機主板上有中央處理器和存儲器，貼片完成后，在主板上貼上一個條碼， 作為板號（主板的*編號Barcode），并通過計算機、掃描儀和數據線將板號寫入主板的存儲器中。板號能正確寫入，表明手機系統(tǒng)連接器輸入輸出電路基本正常。在后續(xù)的測試中，該板號與測試結果相，通過板號可以查詢生產過程的測試記錄。 （3）主板測試 與傳統(tǒng)的ICT 測試有區(qū)別的是手機測試無法提供大量的測試點。但手機主板本身包括了電源管理電路、射頻收發(fā)電路、基帶信號處理芯片、中央處理器、存儲器、電源輸入口、顯示接口、鍵盤等電路，接近一個完整的系統(tǒng)，可以用其接口電路對其進行測試。主板測試主要包括以下幾個部分：關機漏電流、電池校準、充電測試、鍵盤電路測試和音頻電路測試高低溫沖擊試驗箱、振動和振鈴電路測試。測試完成后，寫入該工位的生產測試信息。 在主板測試項目中，需要有測試點、測試夾具、計算機、可控雙路輸出電源、可控三用表電表、數據線、GPIB卡、GPIB 線和生產測試程序的配合。在生產初期，可以測試全部的項目；在生產穩(wěn)定后，可根據故障統(tǒng)計，優(yōu)化測試項目以加快測試速度。該測試工位的設置，可以將貼片造成的不良品檢測出來，從而提高校準測試工位的效率。 （4）主板校準 主板校準主要包括發(fā)射機和接收機的射頻指標校準。發(fā)射機校準包括：APC 校準、包絡調整、AFC 頻率補償校準、溫度補償校準等。接收機校準包括：AGC 校準、RSSI校準等。主板校準是手機生產測試的核心，手機的各項性能指標主要依靠校準工位調整參數，使之滿足產品標準。 通過主板測試和主板校準，已經檢測了主板的絕大部分電路。校準完成后，寫入該工位的生產測試信息。手機主板經過組裝工位，進入整機功能測試。 （5）整機功能測試 在該工位，手機主板已組裝成整機，測試人員需通過工程模式配合，檢查手機主要功能是否正常。 在大批量生產過程中，對測試的要求是率、低成本、高低溫沖擊試驗箱可靠性。手機軟件工程測試模式的應用，極大的提高了整機功能測試效率和覆蓋率。手機工程測試模式就是利用手機軟件，啟動手機振鈴、振動、鍵盤輸入、音頻環(huán)路、信號指示燈、顯示器等單元工作，測試人員可以非常方便地檢查該項功能。例如，某款手機在生產初期入庫檢驗時，發(fā)現有的手機無法送話。經檢查，發(fā)現在整個生產環(huán)節(jié)，缺乏對音頻通道的有效測試。對于音頻環(huán)路這一測試項目，2 秒就可以完成，無需儀器配合。從提高綜合測試儀器利用率角度來考慮工位的設置，將整機功能測試，放在整機終測之前比較合適。在整機裝配時，如組裝鍵盤、機殼、LCD 模塊、聽筒、主板等，難免會出現不良品。在功能測試時，該不良品被及時檢查出，送到維修工位，而不是進入整機終測，這就避免了一部分手機的重復測試。 （6）整機終測 校準完成后的手機，其性能是否滿足規(guī)范要求，或機殼裝配是否對性能有影響，需通過終側來驗證。手機通過數據接口接收測試程序指令，再通過射頻接口與測試儀器相連接，就可以測試發(fā)射機的功率、包絡、頻率、相位、接收機靈敏度等指標。整機測試完成后，計算機向手機寫入相應生產測試信息。對于一個測試工位，測試項目的先后次序，高低溫沖擊試驗箱會對生產線效率產生直接的影響。對于手機失敗率高的測試項目，要考慮zui先測試，這也是生產測試程序優(yōu)化的內容之一。如果大部分測試項目完成后才發(fā)現失敗的項目，就意味著已進行的測試都是無效的，就必須全部重新測試。測試工位的正確設置和生產過程的有效控制是手機質量保障的前提。在手機生產過程中，生產測試信息的引入對于控制手機生產質量起著重要作用。生產測試信息，就是手機主板或整機在經過某一測試工位檢測后，計算機向手機寫入相應狀態(tài)信息，包括經過該工位測試成功，或測試失敗標志位以及失敗的項目代碼、生產日期和地點等代碼。在下一個測試工位，計算機首先讀取并檢查手機存儲器某一地址是否通過前一測試工位，并檢查是否有測試結果成功的標志位，如沒有該標志位，計算機立刻給出提示并停止測試。生產測試信息的運用，從根本上防止了漏測現象的發(fā)生，降低手機返工和重復測試的可能，從而有效地控制手機的生產成本。高低溫沖擊試驗箱 生產測試信息的應用，還有利于對不良品的控制管理。對于手機測試的失敗項目，計算機向手機寫入故障代碼。在維修工位，不良品可通過板號查到測試數據，也可通過故障代碼與相關電路對照表，定位故障，提高了手機維修的效率。